CTT3280F测试系统是以量产功率半导体分立器件为目标的高性能集成电路测试机，可适应于功率器件的芯片测试和成品测试,主要测试品种包括MOS、IGBT、二极管、三极管等三端器件。通过与主机向连接的测试头连到针卡，实现8/16 site的并测硬件结构，主要用于多site芯片并测。

 

系统的主要特点如下：

1. 整机测试规格为1000V/10A,最大支持16 SITE全参数并行测试；

2. 常规配置1个DUT，可并测8个管芯，最大可配置2个DUT，最大可并测16个管芯；

3. 配GPIB接口，可与UF200等主流探针台进行联机测试；

4. 测试机电源由软件控制，具有自我?；すδ?；

5. 软件界面以填表方式提供用户测试参数设置界面，并提供单项参数调试功能；

6. DUT盒标配CHK板进行自检校准校验；

7. 支持ACCESS 、EXCEL 、CSV、STDF四种数据保存格式；

8. 具有防呆功能，对不具备测试条件的信息能自动报警并停止测试；